Apple CT Data (simulated parallel-beam)
94 apples with internal defects, three simulated parallel-beam sets (noiseless, 5% Gaussian noise, scattering noise) at 50 angles, with defect labels and ground-truth reconstructions in six companion uploads. Simulated from real cone-beam scans; this upload carries the simulated sets only. Documentation lives at arXiv:2012.13346.
| 类型 | 数据集 |
|---|---|
| 数据 | 投影 + 图像 |
| 成像方式 | parallel-beam (simulated) |
| 任务 | reconstruction, sparse-view, segmentation |
| 许可（数据集本身的） | CC BY 4.0 |
| 官方页面 | https://doi.org/10.5281/zenodo.4212301 |
| DOI | 10.5281/zenodo.4212301 |
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- 稀疏视角 CT (154)
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